Rasterelektronenmikroskop

Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM)

Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).
Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von Hydratationsvorgängen im Zementleim erschwert.
Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung der Proben ist hier nicht erforderlich. Die Charakterisierung der Hydratation von Zementleim fällt mit dem ESEM erheblich leichter.